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硅片研磨目檢黃光燈

作者: 時(shí)間:2022-10-08 14:54:42瀏覽1435 次

信息摘要:

晶圓晶片表面瑕疵缺陷檢查燈,又叫硅片研磨目檢黃光燈,美國路陽從2010到現(xiàn)在一直致力于為客戶研發(fā)更適合的表面瑕疵檢查燈,近根據(jù)晶圓晶片客戶要求開發(fā)新款應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓晶片表面瑕疵檢查燈LUYOR-3318,內(nèi)置30W大功率led模組發(fā)光,可檢查出半導(dǎo)體晶圓表面1um瑕疵,瑕疵包含冗余物(如微小顆粒、灰塵、晶圓加工前一個(gè)工序的殘留物)和機(jī)械損傷。

上海峰志儀器有限公司銷售的晶圓晶片表面瑕疵缺陷檢查燈,又叫硅片研磨目檢黃光燈,美國路陽從2010到現(xiàn)在一直致力于為客戶研發(fā)更適合的表面瑕疵檢查燈,近根據(jù)晶圓晶片客戶要求開發(fā)新款應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓晶片表面瑕疵檢查燈LUYOR-3318,內(nèi)置30W大功率led模組發(fā)光,可檢查出半導(dǎo)體晶圓表面1um瑕疵,瑕疵包含冗余物(如微小顆粒、灰塵、晶圓加工前一個(gè)工序的殘留物)和機(jī)械損傷。

表面檢查燈LUYOR-3318采用人眼敏感510-590NM之間波長光,為桌面式檢查燈,可檢查到1um以下的刮痕或微粒子,并且具有綠光和黃光2種顏色的復(fù)合光,幾乎可檢測(cè)出塵埃,大大降低晶圓晶片不良率。使用壽命為2萬小時(shí)以上。光源強(qiáng)度可達(dá)90000LX,小可以檢測(cè)1μ的表面臟污,比傳統(tǒng)的檢查燈,效用增強(qiáng)10倍。

紫外表面檢查燈LUYOR-3318UV是一款臺(tái)式紫外wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈,高強(qiáng)度紫外線,柔性軟管支撐,可多種角度照射,可解放雙手方便各種測(cè)試; 高強(qiáng)度紫外線可細(xì)微檢測(cè)出晶圓表面各種瑕疵,紫外燈的光束輪廓非常均勻,沒有任何足跡顯示LED的陰影,黑點(diǎn)或其他干擾缺陷。

另外美國路陽還生產(chǎn)便攜式平行光表面檢查燈LUYOR-3320,該款表面檢查燈也可選擇黃光,綠光、白光和紫外光等多種波段,可選擇220v交流供電,也可選擇鋰電池組供電。

3318UV-4.jpg

LUYOR-3318產(chǎn)品介紹請(qǐng)瀏覽:LUYOR-3318表面檢查燈

一片晶圓片表面分布數(shù)十萬單獨(dú)的晶片,在做成芯片之前,需要對(duì)晶圓片進(jìn)行相應(yīng)的缺陷檢查。美國路陽LUYOR-3318系列于晶圓片表面瑕疵缺陷檢查,以檢查晶圓片表面飛塵為例演示:

一、測(cè)量需求

晶圓片表面飛塵

二、測(cè)量步驟

1)準(zhǔn)備好晶圓片表面缺陷檢測(cè)燈調(diào)整至合適的位置

2)戴好相應(yīng)的測(cè)試裝備(手套、眼鏡)

3)手拿晶圓片開始檢測(cè),查看表面飛塵情況,并調(diào)試燈光知道觀察效果明顯

4)做相應(yīng)的分類及記錄

如上體所示,半導(dǎo)體晶圓片缺陷檢查燈LUYOR-3318系列白光、黃光,綠光都能看好的查看晶圓片表面的飛塵,除了飛塵,也可以檢查出晶圓片表面的刮痕等缺陷。由于手機(jī)拍不出微小的瑕疵,需要查看的,可聯(lián)系上海峰志儀器有限公司或美國路陽上海公司(免費(fèi)請(qǐng)根據(jù)網(wǎng)頁底部聯(lián)系方式聯(lián)系4006-254-365)申請(qǐng)樣機(jī)試用。

美國路陽從2010年專注于檢查燈的研究(我們掌握了核心技術(shù),我們可以提供不同照度的平行燈,它們可滿足不同客戶的要求),用于晶圓片、LCD、屏幕,基材……表面瑕疵(劃痕、微塵、凹凸、油墨)檢查,精度可達(dá)到1um。

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